組件與零部件的清潔對(duì)于生產(chǎn)工藝十分重要。對(duì)于開(kāi)發(fā)、制造、批量生產(chǎn)以及成品質(zhì)量控制的所有流程，滿足對(duì)常見(jiàn)微觀尺寸污染物和異物顆粒的計(jì)數(shù)、分析和分類(lèi)的高標(biāo)準(zhǔn)要求是非常重要的。

清潔度分析系統(tǒng)專(zhuān)為滿足現(xiàn)代工業(yè)及國(guó)家和國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的清潔度要求而特別設(shè)計(jì)。

本系統(tǒng)滿足ISO16232/VDA19等國(guó)際清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)范，設(shè)計(jì)制造嚴(yán)格遵循國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)。

采用核心智能圖像拼接技術(shù)對(duì)標(biāo)準(zhǔn)濾膜進(jìn)行智能掃描，無(wú)縫拼接，全局預(yù)覽圖像，超越進(jìn)口設(shè)備。

一鍵掃描即可設(shè)別全部顆粒（金屬、非金屬、纖維），分析結(jié)果可示化。按照標(biāo)準(zhǔn)等級(jí)區(qū)間劃分所有顆粒。

系統(tǒng)采用連續(xù)變倍體式顯微鏡方案，VDA19/ISO16232清潔度檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)推薦方案，可獲得更大景深，更快檢測(cè)速度。

僅一次掃描，自動(dòng)偏振光技術(shù)，自動(dòng)化程度高。

分析結(jié)果MAP圖儲(chǔ)存,數(shù)據(jù)保存指D根目錄，可任意調(diào)用及從新分析。

SQL數(shù)據(jù)庫(kù)統(tǒng)計(jì)，可選擇任意時(shí)間段查看并調(diào)出蕞大金屬顆粒、任意顆粒尺寸范圍數(shù)據(jù)，并以趨勢(shì)圖表述。

本系統(tǒng)蕞大還原顆粒污染物原色彩及顆粒數(shù)據(jù)測(cè)量準(zhǔn)確性。

金屬顆粒數(shù)量檢測(cè)準(zhǔn)確度達(dá)到業(yè)內(nèi)蕞優(yōu)，對(duì)鋰電池磁性顆粒檢測(cè)更優(yōu)，檢測(cè)磁性粒數(shù)可提升20-30%?？蔀榱姿徼F鋰，氫氧化鋰，漿料等鋰電池原料生產(chǎn)及工藝改進(jìn)提供可靠數(shù)據(jù)。

軟件性能*，簡(jiǎn)單易用，免費(fèi)升級(jí)。

自動(dòng)導(dǎo)出清潔度檢測(cè)報(bào)告。

系統(tǒng)具備重復(fù)性、準(zhǔn)確性、可靠性。

功能超越進(jìn)口設(shè)備，可*替代進(jìn)口清潔度檢測(cè)系統(tǒng)。

 本系統(tǒng)軟硬件性能經(jīng)過(guò)專(zhuān)業(yè)團(tuán)隊(duì)開(kāi)發(fā)設(shè)計(jì)，具備國(guó)內(nèi)靈先水平，實(shí)用性強(qiáng)，性能、數(shù)據(jù)、超越德國(guó)清潔度檢測(cè)儀，可滿足不同客戶對(duì)標(biāo)使用。